
這項晶體管技術突破,也給關注半導體發展的同事一個可以一起看的背景。

新型晶體管突破太赫茲門檻 事件脈絡與關鍵事實
中國科學院金屬研究所聯合團隊成功研製新型高頻硅-石墨烯-鍺勢壘晶體管(Si-Graphene-Ge Barristor),在高頻電子器件領域取得重大突破。該研究於2026年6月發表於《自然·通訊》,提出一種創新型垂直二維基區結構,解決了傳統高頻晶體管在太赫茲頻段應用中的性能瓶頸。隨著5G普及與6G技術發展,物聯網與智能通訊系統對晶體管運行速度的要求日益提高,需突破1太赫茲(THz)的關鍵門檻。傳統器件如HEMT與HBT受限於載子渡越時間,難以達成此目標。近年來,以石墨烯為基區的垂直二維晶體管雖具潛力,但量子隧穿與界面缺陷問題嚴重影響電流增益與高頻表現。
事實
- 中國科學院金屬研究所團隊研發出硅-石墨烯-鍺勢壘晶體管(Si-Graphene-Ge Barristor)
- 該晶體管實現132 GHz本徵截止頻率,創下垂直二維基區晶體管最高紀錄
- 電流增益達1.8 × 10⁷,為目前晶體管中最高
- 研究成果於2026年6月發表於《自然·通訊》
- 理論模擬顯示,優化後工作頻率有望突破1 THz
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